快速溫度變化試驗(yàn)箱降溫時(shí)間時(shí)間定制適用于電子、電器、電池、塑料、食品、紙制品、車輛、金屬、化工、建材、科研院所，等單位。

產(chǎn)品適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變試驗(yàn)還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。

快速溫度變化試驗(yàn)箱降溫時(shí)間時(shí)間定制滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB10592-2008高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度變化)

2、GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: (IEC60068-2-1:2007) 試驗(yàn) A:低溫試驗(yàn)方法

3、GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: (IEC60068-2-1: 2007)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

4、GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: (IEC60068-2-78:2001) 試驗(yàn)Cab:恒定試驗(yàn)方法

5、GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: (IEC68-2-14) 試驗(yàn)N:溫度變化

6、GJB1503A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)方法

7、GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)方法

注: 

1、另可供客戶尺寸大小非標(biāo)訂制;

2、溫度范圍及升降溫恢復(fù)時(shí)間可安客戶要求非標(biāo)訂制;

3、溫度分布均勻測試方法，依照內(nèi)箱離各邊1/10距離有效空間量測。